在國家要求加強(qiáng)集成電路人才培養(yǎng)的號召下，西安電子科技大學(xué)微電子學(xué)院攜手美國國家儀器有限公司（National Instruments, NI）共建微電子測試國際合作聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室。11月27日，西安電子科技大學(xué)郝躍副校長與NI大中華區(qū)總裁Kin-Choong Chan先生簽署了聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室合作協(xié)議。

    11月28日，雙方為合力打造的“西電-NI微電子測試國際合作聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”舉行了揭牌儀式，西安電子科技大學(xué)國際合作與交流處處長左愿遠(yuǎn)與NI大中華區(qū)總裁Kin-Choong Chan先生共同為聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室揭牌。同時(shí)，依托西電-NI聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室舉辦了半導(dǎo)體測試技術(shù)及人才培養(yǎng)交流研討會。工信部人才交流中心副主任李寧出席會議并介紹了中心集成電路人才培養(yǎng)工作，全國大學(xué)生集成電路創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽組委會陳黎介紹了大賽情況以及NI在大賽中支持測試人才培養(yǎng)方面的合作情況。西安電子科技大學(xué)微電子學(xué)院副院長張進(jìn)成對西電半導(dǎo)體人才培養(yǎng)模式做了介紹。NI全球半導(dǎo)體業(yè)務(wù)總監(jiān)Hank Lydick對NI半導(dǎo)體測試技術(shù)與平臺做了介紹。之后，參會代表到聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室參觀交流，就半導(dǎo)體測試人才培養(yǎng)開展交流研討。

關(guān)于西電-NI微電子測試國際聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室

   西電-NI微電子測試國際聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室建設(shè)的目標(biāo)是在半導(dǎo)體領(lǐng)域建立一個(gè)具有示范性的融合教學(xué)、科研、產(chǎn)業(yè)為一體的展示基地，通過雙方在半導(dǎo)體領(lǐng)域產(chǎn)學(xué)合作協(xié)同育人、科研創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)化及服務(wù)、開展國際合作交流等多方面的系統(tǒng)化合作，帶動學(xué)科的整體發(fā)展和影響力，聯(lián)合建立集成電路人才培養(yǎng)體系，在全國相關(guān)高校及半導(dǎo)體行業(yè)內(nèi)起到示范和引領(lǐng)作用，培養(yǎng)集成電路產(chǎn)業(yè)急需、創(chuàng)新能力強(qiáng)的工程型人才。結(jié)合西電在微電子人才培養(yǎng)、科學(xué)研究和工程攻關(guān)以及NI全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試技術(shù)和工程經(jīng)驗(yàn)，逐漸建立以集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展需求為導(dǎo)向的“教學(xué)-科研-產(chǎn)業(yè)”閉環(huán)合作體系，并取得了一定成果。

   在產(chǎn)學(xué)合作協(xié)同育人方面，依托教育部產(chǎn)學(xué)合作協(xié)同育人平臺，西電微電子學(xué)院與NI在產(chǎn)學(xué)合作協(xié)同育人方面展開積極合作。合作項(xiàng)目“戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)對接平臺-半導(dǎo)體測試技術(shù)”獲批2016年第一批教育部產(chǎn)學(xué)合作協(xié)同育人項(xiàng)目（項(xiàng)目編號：201601011013）。針對課程合作，西電微電子學(xué)院與NI計(jì)劃合作開發(fā)混合信號IC測試、RFIC測試、集成電路測試技術(shù)實(shí)踐等一系列課程。其中，混合信號IC測試課程已于2017年9月正式面向?qū)W生開課。

   在科研創(chuàng)新合作方面，聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室在半導(dǎo)體領(lǐng)域提供雙方共同合作研究的平臺基礎(chǔ)，專注于半導(dǎo)體測試技術(shù)的領(lǐng)先技術(shù)研究。合作研究方向包括AD/DA混合信號測試技術(shù)、數(shù)字芯片測試技術(shù)及RFIC芯片測試技術(shù)等。目前，基于NI圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺LabVIEW和PXI技術(shù)平臺，已經(jīng)有科研成果產(chǎn)出。

   在產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)化和服務(wù)方面，聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室將致力于半導(dǎo)體領(lǐng)域新技術(shù)產(chǎn)業(yè)轉(zhuǎn)化和產(chǎn)業(yè)服務(wù)。包括：針對半導(dǎo)體領(lǐng)域的科研先進(jìn)研究成果，快速建立產(chǎn)業(yè)化的機(jī)制和平臺，以聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室的平臺和技術(shù)為依托，支持橫向項(xiàng)目的拓展；面向行業(yè)企業(yè)提供產(chǎn)品預(yù)研、實(shí)驗(yàn)服務(wù)、技術(shù)咨詢服務(wù)等多種合作模式；突出產(chǎn)學(xué)研有效結(jié)合，培養(yǎng)產(chǎn)業(yè)亟需的專業(yè)高校人才的同時(shí)，作為NI在半導(dǎo)體行業(yè)內(nèi)授權(quán)的培訓(xùn)和認(rèn)證中心，可以為相關(guān)企業(yè)提供專業(yè)的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)開發(fā)培訓(xùn)和認(rèn)證服務(wù)；構(gòu)建對于西北地區(qū)半導(dǎo)體行業(yè)的公共服務(wù)平臺，為西北地區(qū)半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展提供整體帶動作用；定期聯(lián)合舉辦面向全國的半導(dǎo)體人才培養(yǎng)及測試技術(shù)交流活動，進(jìn)一步擴(kuò)大聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室影響力。

   在國際合作交流方面，聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室積極開展國際合作交流，與國際知名高校在課程、學(xué)術(shù)交流及師生互訪等方面展開合作。目前，聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)與美國Texas Tech University（TTU），University of Florida（UFL）及Texas A&M University（TAMU）針對半導(dǎo)體測試相關(guān)課程開始開展合作。

   集成電路產(chǎn)業(yè)是信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)的核心，是支撐經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展和保障國家安全的戰(zhàn)略性、基礎(chǔ)性和先導(dǎo)性產(chǎn)業(yè)，當(dāng)前和今后一段時(shí)期是我國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的重要戰(zhàn)略機(jī)遇期和攻堅(jiān)期。在此過程中，提升集成電路緊缺人才培養(yǎng)和技術(shù)創(chuàng)新能力具有重要意義。未來，在聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室各項(xiàng)工作逐步落地后，進(jìn)一步考慮依托聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室在教學(xué)、科研和產(chǎn)業(yè)各方面的積累，由西安電子科技大學(xué)微電子學(xué)院和NI公司牽頭，引入半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)相關(guān)的國內(nèi)外研究機(jī)構(gòu)及上下游企業(yè)力量，共同成立半導(dǎo)體人才培養(yǎng)和技術(shù)創(chuàng)新聯(lián)盟，打造半導(dǎo)體人才培養(yǎng)和技術(shù)創(chuàng)新生態(tài)圈，進(jìn)一步形成更完整的“產(chǎn)學(xué)研用”良性循環(huán)，創(chuàng)新人才培養(yǎng)機(jī)制，提升人才培養(yǎng)水平，為集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展提供人才和智力支撐。

關(guān)于NI

自1976年以來，NI (www.ni.com) 一直致力于提供各種強(qiáng)大的基于平臺的系統(tǒng)來幫助工程師和科學(xué)家提高效率和加速創(chuàng)新，以解決全球面臨的重大工程挑戰(zhàn)。NI的圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺，有助于加速原型系統(tǒng)的開發(fā)。通過圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺，包括高效的圖形化開發(fā)軟件LabVIEW，以及高性價(jià)比的模塊化硬件，在整個(gè)工業(yè)界，NI已經(jīng)幫助各領(lǐng)域的工程師不斷創(chuàng)新，為遍布全球各地的35000家不同的客戶提供多種應(yīng)用選擇，在縮短產(chǎn)品問世時(shí)間的同時(shí)有效降低開發(fā)成本。在半導(dǎo)體行業(yè)，NI的產(chǎn)品覆蓋了半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的幾乎全部流程，為業(yè)內(nèi)的設(shè)計(jì)室、晶圓廠、封測廠、高校和研究機(jī)構(gòu)提供了非常有力的技術(shù)支撐，為他們提供可擴(kuò)展的解決方案來應(yīng)對成本、設(shè)計(jì)和器件挑戰(zhàn)。

關(guān)于NI院校合作計(jì)劃

在工程教育界，NI長期以來都以推動創(chuàng)新教學(xué)、實(shí)現(xiàn)高效科研，助力工程教育發(fā)展為己任, 基于自身的業(yè)界領(lǐng)先技術(shù)優(yōu)勢和與高校的多樣化合作，為高校教學(xué)提供豐富的動手實(shí)踐和基于項(xiàng)目的學(xué)習(xí)體驗(yàn)，幫助高校工程教學(xué)與研究提升到一個(gè)新的層次。目前，NI已于國內(nèi)高校合作建立了300多個(gè)教學(xué)與科研實(shí)驗(yàn)室，每年新增超過50000名大學(xué)生學(xué)習(xí)LabVIEW及相關(guān)課程，國內(nèi)重點(diǎn)高校中超過70%的高校開設(shè)了LabVIEW相關(guān)課程并建立相應(yīng)實(shí)驗(yàn)室?；趯缀趺總€(gè)行業(yè)正在發(fā)生的技術(shù)進(jìn)步的深入理解以及在工程教育方面積累的豐富經(jīng)驗(yàn)，NI與全球眾多高校針對工程教育改革展開了深入合作，共同探索創(chuàng)新工程人才的培養(yǎng)。

關(guān)于NI半導(dǎo)體測試技術(shù)

NI為半導(dǎo)體行業(yè)提供了從研發(fā)驗(yàn)證到量產(chǎn)測試的完整解決方案，基于統(tǒng)一平臺化的方法實(shí)現(xiàn)從實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證測試到量產(chǎn)的跨越。在實(shí)驗(yàn)室，NI能夠提供高效的實(shí)驗(yàn)室自動化，采用模塊化方法提高測試覆蓋率并提升測試速度; 在產(chǎn)線，NI能夠提供儀表級別的高性能STS（Semiconductor Test System），并且采用ATE的設(shè)計(jì)與生產(chǎn)環(huán)境對接。而實(shí)驗(yàn)室和量產(chǎn)測試之間均采用了模塊化儀器PXI架構(gòu)，這樣的方法將打通測試融合壁壘，不僅有效縮減了數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)，更是time to market的減少。