http://m.casecurityhq.com 2020-08-10 21:02 來源:Mentor Graphics Corporation
•Calibre nmLVS-Recon 技術(shù)可對早期 IC 設(shè)計進(jìn)行快速、系統(tǒng)性和自動化的分析
為了幫助集成電路 (IC) 設(shè)計人員更快地實(shí)現(xiàn)設(shè)計收斂,Mentor, a Siemens business 近日將Calibre® Recon 技術(shù)擴(kuò)展至 Calibre nmLVS 電路驗(yàn)證平臺。Calibre Recon 技術(shù)于2019年推出,作為 Mentor Calibre nmDRC 套件的擴(kuò)展,旨在幫助客戶在早期驗(yàn)證設(shè)計迭代期間快速、自動和準(zhǔn)確地分析 IC 設(shè)計中的錯誤,從而極大地縮短設(shè)計周期和產(chǎn)品上市時間。
Calibre nmLVS-Recon 解決方案能夠幫助芯片級系統(tǒng) (SoC) 工程師、電路設(shè)計人員和 IC 電路驗(yàn)證團(tuán)隊在開發(fā)階段的早期,識別并解決選定的系統(tǒng)錯誤,縮短電路驗(yàn)證的總周轉(zhuǎn)時間。這些系統(tǒng)錯誤不僅會消耗寶貴的計算資源,而且可能產(chǎn)生數(shù)百萬個錯誤結(jié)果,其中許多錯誤是因?yàn)樵O(shè)計數(shù)據(jù)不完整而產(chǎn)生。Calibre nmLVS-Recon 解決方案的早期采用者在分析早期設(shè)計時能夠?qū)崿F(xiàn) 10 倍以上的運(yùn)行時間改善,內(nèi)存需求減少3 倍。
“Calibre nmLVS-Recon建立了電路驗(yàn)證使用模型的全新范式,”三星電子設(shè)計支援副總裁 Jongwook Kye 表示,“通過將Calibre nmLVS-Recon 技術(shù)與三星經(jīng)過認(rèn)證的 Sign-off Calibre nmLVS 設(shè)計套件相結(jié)合,我們的共同客戶將可以在早期設(shè)計中實(shí)現(xiàn)更快的迭代,從而縮短 LVS 驗(yàn)證周期,在三星實(shí)現(xiàn)快速tape out。”
Calibre nmLVS-Recon 技術(shù)基于靈活的配置框架,支持多種使用模型,使設(shè)計團(tuán)隊能夠選擇和分析特定類別的電路驗(yàn)證問題。該工具采用自動化的智能執(zhí)行啟發(fā)法(intelligent execution heuristics),旨在幫助用戶在完整的 Calibre nmLVS Signoff 流程與 Calibre Recon 選擇的電路驗(yàn)證檢查之間無縫導(dǎo)航。借助數(shù)據(jù)分區(qū)、設(shè)計細(xì)分、數(shù)據(jù)復(fù)用、任務(wù)分布和錯誤管理的高級選項(xiàng),可按原樣將 Calibre nmLVS-Recon 流程與任何晶圓代工廠/集成設(shè)備制造商 (IDM) 的 Calibre sign-off 設(shè)計套件結(jié)合使用,而且可以應(yīng)用于任何工藝技術(shù)節(jié)點(diǎn)。
早期的設(shè)計版本通常包含許多明顯的系統(tǒng)違規(guī)問題。例如,“網(wǎng)絡(luò)短路” (shorted nets) 這樣的違規(guī)會造成數(shù)百萬個錯誤,而且會耗費(fèi)大量計算資源?,F(xiàn)在,電路驗(yàn)證工程師可以使用 Calibre nmLVS-Recon 短路隔離配置,以交互和迭代的方式快速有效地查找并修復(fù)這一類型的違規(guī)問題。此選項(xiàng)是內(nèi)置的,可以實(shí)現(xiàn)最佳靈活性和設(shè)計分析意圖的變化,同時保持易用性和無縫的使用模型轉(zhuǎn)換。
“通過向 Calibre 平臺添加 Calibre nmLVS-Recon 技術(shù),Mentor能夠繼續(xù)協(xié)助客戶直面日趨復(fù)雜的 IC 設(shè)計挑戰(zhàn)。”Mentor的Calibre 設(shè)計解決方案產(chǎn)品管理副總裁 Michael Buehler-Garcia 表示,“Calibre nmDRC-Recon 方法提供的早期設(shè)計探索已經(jīng)幫助多個設(shè)計團(tuán)隊節(jié)省了大量的版圖驗(yàn)證時間。現(xiàn)在,Mentor 通過 Calibre nmLVS-Recon 技術(shù)帶來了同樣的優(yōu)勢,在縮短電路驗(yàn)證的總周轉(zhuǎn)時間的同時,還幫助設(shè)計團(tuán)隊解決了當(dāng)今芯片設(shè)計的復(fù)雜性問題。”
Calibre nmLVS-Recon已隨 2020 年 7 月發(fā)布的 Calibre 系列同期上市,并計劃在以后的版本中提供更多功能。
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