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NI將半導(dǎo)體ATE數(shù)字功能引入PXI平臺

數(shù)字儀器提供了開發(fā)智能半導(dǎo)體測試系統(tǒng)所需的硬件與軟件功能

http://m.casecurityhq.com 2016-08-05 09:45 來源:美國國家儀器(NI)有限公司

    NIWeek - NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學(xué)家應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的平臺系統(tǒng)供應(yīng)商,今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。 該產(chǎn)品將射頻集成電路、電源管理IC、微機電(MEMS)系統(tǒng)設(shè)備以及混合信號IC的制造商從傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動化測試設(shè)備(ATE)的封閉式架構(gòu)中解放出來。

    傳統(tǒng)ATE的測試覆蓋率通常無法滿足最新半導(dǎo)體設(shè)備的要求。通過將半導(dǎo)體行業(yè)成熟的數(shù)字測試模式引入到基于PXI開放平臺的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)(STS)中,并使用功能強大且人性化的編輯器和調(diào)試器進(jìn)行優(yōu)化,用戶可以利用先進(jìn)的PXI儀器來降低射頻和模擬IC的測試成本并提高吞吐量。

    “PXI數(shù)字模式儀器為半導(dǎo)體工程師提供所有高端數(shù)字測試平臺才具備的數(shù)字性能,因此它的問世無疑是為STS錦上添花,” NI半導(dǎo)體測試副總裁Ron Wolfe表示, “如果生產(chǎn)車間的PXI具備這個功能,他們就可以在滿足先進(jìn)器件的成本和測試要求的同時,輕松將其擴展到其他產(chǎn)品的測試上。”

    NI PXIe-6570數(shù)字模式儀器以非常實惠的價格為無線設(shè)備供應(yīng)鏈和物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備常用IC提供了所需的測試功能。它具有100 MVector/秒的圖形向量執(zhí)行速率,在單個子系統(tǒng)中具有獨立的源、捕獲引擎、電壓/電流參數(shù)函數(shù)以及高達(dá)256個同步數(shù)字引腳。 用戶可充分利用PXI的開放性和STS,根據(jù)需求任意地增加或減少所需的器件,以滿足測試配置所需的器件引腳和測試點數(shù)。

    全新的數(shù)字模式編輯器軟件具有以下功能:器件引腳映射圖、規(guī)范和圖形向量編輯環(huán)境,有助于更快速地制定測試計劃;各種內(nèi)置工具,如多站點和多儀器并行收發(fā)可實現(xiàn)產(chǎn)品從開發(fā)到投產(chǎn)的無縫對接;shmoo圖和交互式引腳視圖等工具,可更高效地調(diào)試和優(yōu)化測試。

    使用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和數(shù)字模式編輯器軟件進(jìn)行特性分析和產(chǎn)品測試,可減少數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)所需的工作,從而縮短產(chǎn)品上市時間。 STS配置內(nèi)外的PXI硬件占地空間小,可節(jié)省廠房空間,而且可使用特性分析實驗室臺上的標(biāo)準(zhǔn)墻插式電源供電。

    “PXI已被證明是一個出色的軟硬件集成解決方案,可同時適用于產(chǎn)線車間和特性分析實驗室,”Wolfe補充道,“NI基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和數(shù)字圖形向量編輯器是重要的創(chuàng)新產(chǎn)品,可幫助器件制造商和測試室降低測試成本以及優(yōu)化測試程序開發(fā)。”

    許多半導(dǎo)體公司正基于NI平臺和生態(tài)系統(tǒng)來構(gòu)建智能化的測試系統(tǒng)。 不僅僅是生產(chǎn)適用的STS系列、1 GHz帶寬矢量信號收發(fā)儀,fA級源測量單元以及TestStand半導(dǎo)體模塊, 這些系統(tǒng)受益于覆蓋了直流到毫米波的600多款PXI產(chǎn)品。 它們采用PCI Express第三代總線接口,具有高吞吐量數(shù)據(jù)傳輸能力,同時具有子納秒級同步以及集成的定時和觸發(fā)。 用戶可以利用LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力,以及一個由合作伙伴、附加IP、應(yīng)用工程師團隊組成的活躍生態(tài)系統(tǒng),大幅降低測試成本,縮短上市時間,開發(fā)面向未來的測試設(shè)備,滿足未來RF和混合信號測試的各種挑戰(zhàn)。

    如需了解NI的更多半導(dǎo)體測試產(chǎn)品,請訪問www.ni.com/semiconductor

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